本可程式高低温试验箱用于试验电工、电子产品、元器件、零部件及其材料在高、低的环境下存储、运输和使用时的适用性试验，以评估产品的工作性能，适用于GB/T2423.34-2005（电工电子产品基本环境试验规程：试验Z/AD 温度循环试验方法

本杭州奥博可程式高低温试验箱厂家适用于GB/T2423.34-2005（电工电子产品基本环境试验规程：试验Z/AD 温度循环试验方法：IEC60068，GB、T2423.1-2008GB/T2423.2-2008，制作标准为GB/T5170.18-2005，GB/T10589（低温试验箱技术）、GB/T11158（高温试验箱技术条件）

本可程式高低温试验箱厂家适用于GB/T2423.34-2005（电工电子产品基本环境试验规程：试验Z/AD 温度循环试验方法：IEC60068，GB、T2423.1-2008GB/T2423.2-2008，制作标准为GB/T5170.18-2005，GB/T10589（低温试验箱技术）、GB/T11158（高温试验箱技术条件）